问题：X射线小角散射法
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提问：chaichai
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时间：2005-05-27 10:48:25 编辑加入/取消收藏订制/取消短消息举报该贴

X射线小角散射法的适用范围是什么？它是否能精确测出所制粉体的粒度和形貌？

回复人：gl761118,▲ () 时间：2006-02-04 00:26:07 编辑	1楼
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回复人：yjgzfl,★ (研究) 时间：2006-02-04 17:20:40 编辑	2楼
已经打分了。

回复人：flychem,★ () 时间：2007-07-07 10:48:50 编辑	3楼
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回复人：bj2008,▲ () 时间：2007-07-30 13:50:56 编辑	4楼
主要用于较细粒径和比表面积较大的或孔径较多和较大的样品。至于粉体的粒度和形，并不能测的很精确。

回复人：asjxcn,▲▲▲ () 时间：2005-05-28 23:45:08 编辑	5楼
晶粒尺寸≠粒度，结晶状态≠形貌。

回复人：nkzjw,▲ (催化) 时间：2005-05-30 10:40:35 编辑	6楼
仅仅是粒度吧，形貌不行。适用于粉末材料，晶态材料

回复人：wh536,▲ () 时间：2005-05-30 21:59:05 编辑	7楼
到晶体之星论坛上可以得到更完善的答案

回复人：asjxcn,▲▲▲ () 时间：2005-05-31 19:02:43 编辑

8楼

当粉体颗粒小到一定程度时，作为晶体会引起X射线衍射峰的宽化。利用谢乐（Scherrer)公式可算出晶粒的平均粒度，前提是晶体，特别是单晶。当粉体颗粒为多晶时，测得的是组成单个颗粒的单个晶粒的平均晶粒度，即一次粒径。这种方法仅适用对晶态的纳米粒子评估。很多情况下（如>50nm)，测量值小于实际值。

回复人：jianronx,▲ () 时间：2005-11-02 19:13:22 编辑	9楼
我记得这个有国标～～上面应该写得很清楚

回复人：gengxin60,▲ () 时间：2005-11-22 11:11:10 编辑	10楼
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得分人：asjxcn-3,

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